在半導(dǎo)體功率器件（如IGBT、SiC、GaN）的研發(fā)與量產(chǎn)測(cè)試中，功率循環(huán)測(cè)試是評(píng)估器件可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。如何選擇一款高精度、高效率、高穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備，直接影響產(chǎn)品的壽命預(yù)測(cè)和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。

金凱博KC-3130功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)，專(zhuān)為車(chē)規(guī)級(jí)（AEC-Q101）、工業(yè)級(jí)（JEDEC）及第三代半導(dǎo)體（SiC/GaN）測(cè)試需求打造，提供全自動(dòng)化、高精度、可擴(kuò)展的測(cè)試解決方案，助力企業(yè)提升測(cè)試效率，降低研發(fā)成本！

為什么選擇金凱博KC-3130？

1. 高精度控制，滿足嚴(yán)苛測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

溫度控制精度±0.5°C，支持紅外熱像儀+熱電偶雙校準(zhǔn)，確保結(jié)溫（Tj）測(cè)量準(zhǔn)確

電流/電壓測(cè)量誤差≤±0.5%，采用四線法測(cè)量，消除導(dǎo)線電阻影響

符合JEDEC JESD22-A104、AEC-Q101、IEC 60747-9等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

2. 大功率范圍，覆蓋主流功率器件

電流輸出：0-3000A（可定制更高），滿足IGBT模塊、SiC MOSFET、GaN HEMT測(cè)試需求

電壓范圍：0-4500V，適配車(chē)規(guī)級(jí)、光伏、工業(yè)電源等高壓應(yīng)用

3. 全自動(dòng)化測(cè)試，提升效率

多通道并行測(cè)試（支持8-16通道），大幅縮短測(cè)試周期

智能失效判定，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)Ron、熱阻、柵極漏電等關(guān)鍵參數(shù)

一鍵生成報(bào)告，支持MES系統(tǒng)對(duì)接，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)可追溯

4. 模塊化設(shè)計(jì)，靈活擴(kuò)展

支持液冷/風(fēng)冷溫控，適應(yīng)不同ΔT測(cè)試需求（-40°C~+250°C）

可搭配雙脈沖測(cè)試（DPT）功能，同步評(píng)估動(dòng)態(tài)特性

開(kāi)放式API接口，支持Python/LabVIEW二次開(kāi)發(fā)

功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)典型應(yīng)用場(chǎng)景

? 車(chē)規(guī)級(jí)功率模塊（AEC-Q101認(rèn)證）

? SiC/GaN器件可靠性評(píng)估

? 光伏逆變器、工業(yè)電機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試

? 高校/研究所功率器件壽命研究