金凱博KC- 3130 SiC-MOSFET功率循環(huán)測試Power Cycling TEST&熱特性智能檢測系統(tǒng)
了解更多金凱博KC-3130高精度大電流PCT測試系統(tǒng)中可同時秒級功率循環(huán)和分鐘級功率循環(huán)測試，整體架構(gòu)模塊化，通訊協(xié)議、通訊接口等采用統(tǒng)一標準，便于后期擴展和維護。在保證系統(tǒng)穩(wěn)定運行的同時，可快速滿足功率半導(dǎo)體可靠性測試需求。 參考標準: JEDEC、MIL-STD-750E、GJB128A、AEC-Q101、IEC60747- 2/6 ch. IV、IEC60747-9、JESD51-14
