在半導體功率器件（如IGBT、SiC、GaN）的研發(fā)與量產測試中，功率循環(huán)測試是評估器件可靠性的關鍵環(huán)節(jié)。如何選擇一款高精度、高效率、高穩(wěn)定性的測試設備，直接影響產品的壽命預測和市場競爭力。

金凱博KC-3130功率循環(huán)測試系統，專為車規(guī)級（AEC-Q101）、工業(yè)級（JEDEC）及第三代半導體（SiC/GaN）測試需求打造，提供全自動化、高精度、可擴展的測試解決方案，助力企業(yè)提升測試效率，降低研發(fā)成本！

為什么選擇金凱博KC-3130？

1. 高精度控制，滿足嚴苛測試標準

溫度控制精度±0.5°C，支持紅外熱像儀+熱電偶雙校準，確保結溫（Tj）測量準確

電流/電壓測量誤差≤±0.5%，采用四線法測量，消除導線電阻影響

符合JEDEC JESD22-A104、AEC-Q101、IEC 60747-9等國際標準

2. 大功率范圍，覆蓋主流功率器件

電流輸出：0-3000A（可定制更高），滿足IGBT模塊、SiC MOSFET、GaN HEMT測試需求

電壓范圍：0-4500V，適配車規(guī)級、光伏、工業(yè)電源等高壓應用

3. 全自動化測試，提升效率

多通道并行測試（支持8-16通道），大幅縮短測試周期

智能失效判定，實時監(jiān)測Ron、熱阻、柵極漏電等關鍵參數

一鍵生成報告，支持MES系統對接，實現數據可追溯

4. 模塊化設計，靈活擴展

支持液冷/風冷溫控，適應不同ΔT測試需求（-40°C~+250°C）

可搭配雙脈沖測試（DPT）功能，同步評估動態(tài)特性

開放式API接口，支持Python/LabVIEW二次開發(fā)

典型應用場景

車規(guī)級功率模塊（AEC-Q101認證）

SiC/GaN器件可靠性評估

光伏逆變器、工業(yè)電機驅動測試

高校/研究所功率器件壽命研究