| 特點(diǎn) | 優(yōu)勢(shì) |
| 超低噪聲（6430 為 0.4fA p-p ，6517B 和 6514 <1fA） | 確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見(jiàn)的超低電流實(shí)現(xiàn)更精確的測(cè)量。 |
| 高達(dá) 10 16 ? 的電阻測(cè)量 (6517B) | 精確測(cè)量超高電阻材料和絕緣體。 |
| 遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430) | 允許直接或短暫連接到信號(hào)源，較大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。 |
| 低輸入端壓降 | 消除影響低電流測(cè)量精度的誤差。 |
| 內(nèi)置 ±1kV 電壓源，提供掃描功能 (6517B) | 簡(jiǎn)化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測(cè)試，以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測(cè)量的過(guò)程。 |
| 適用于測(cè)量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測(cè)試盒 (6517B) | 防止您接觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開(kāi)測(cè)試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。 |
| 即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)高測(cè)量速度 | 支持更快的低電平元器件測(cè)試。 |
| 可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口 | 簡(jiǎn)化構(gòu)建自動(dòng)化元器件測(cè)試系統(tǒng)的過(guò)程。 |
